1.改进CNN&FCN的图像晶圆缺陷分割系统
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改进CNN&FCN的晶圆缺陷分割系统
随着半导体行业的快速发展,半导体晶圆的中值生产需求与日俱增,然而在生产过程中不可避免地会出现各种缺陷,滤波这直接影响了半导体芯片产品的图像质量。因此,中值基于机器视觉的滤波照片冲洗 网站 源码晶圆表面检测方法成为研究热点。本文针对基于机器视觉的图像晶圆表面缺陷检测算法进行深入研究。
在实验中,中值我们采用三种方式对样本晶圆进行成像。滤波第一种方式使用工业显微相机,图像配备白色环光,中值成像分辨率高达×,滤波位深度为,图像小山丘指标源码视野约为5.5mm ×3.1mm。中值第二种方式使用相机 MER--GM,滤波配有蓝色环光和2倍远心镜头,物距mm,成像分辨率×,位深度,杜比源码透传视野宽4.4mm,精度为2jum。第三种方式采用相机 Manta G-B,白色环光LTS-RN-W,镜头TY-A,物距mm,免费永久游戏源码成像分辨率×,位深度8,视野宽3mm,精度1 jum。
传统的基于CNN的分割方法在处理晶圆缺陷时存在存储开销大、效率低下、js图片识别源码像素块大小限制感受区域等问题。而全卷积网络(FCN)能够从抽象特征中恢复每个像素所属的类别,但在细节提取和空间一致性方面仍有不足。
本文提出改进DUC(dense upsampling convolution)和HDC(hybrid dilated convolution),通过学习一系列上采样滤波器一次性恢复label map的全部分辨率,解决双线性插值丢失信息的问题,实现端到端的分割。
系统整合包括源码、环境部署视频教程、数据集和自定义UI界面等内容。
参考文献包括关于机器视觉缺陷检测的研究综述、产品缺陷检测方法、基于深度学习的产品缺陷检测、基于改进的加权中值滤波与K-means聚类的织物缺陷检测、基于深度学习的子弹缺陷检测方法、机器视觉表面缺陷检测综述、基于图像处理的晶圆表面缺陷检测、非接触超声定位检测研究、基于深度学习的人脸识别方法研究等。
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f2=padarray(f2,[ ],);
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f2=padarray(f2,[ ],0);
%å¨æ°å»ºå¾çå¨å´æ·»å ç½è²ä½¿ä¹å¤§å°ä¸ºmoonå¾çç大å°
fn=fn-f2;
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A=padarray(h,[ ],0);
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%é¢å滤波
f1=imcrop(fn,[ ]);
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f2=[ ];
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f2=uint8(f2);
f2=padarray(f2,[ ],);
%å°æ°å»ºå¾åæå±å°*çé»è²å¾ç
f2=padarray(f2,[ ],0);
%å¨æ°å»ºå¾çå¨å´æ·»å ç½è²ä½¿ä¹å¤§å°ä¸ºmoonå¾çç大å°
fn=fn-f2;
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PQ=paddedsize(size(f1));
[u,v]=dftuv(PQ(1),PQ(2));
D0=0.1*PQ(2);
hh=exp(-(u.^2+v.^2)/(2*(D0^2)));%æé é«æ¯ä½é滤波å¨
h1=dftfilt(f1,hh);
A=padarray(h1,[ ],0);
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